干渉フィルタを通してNN 4発光の分布を観察したサンプルから、1つの発光点をピンホールで切り出し、その発光の性質をハンブリー・ブラウンとトゥイスの強度干渉計と呼ばれる光学系で計測したところ、同一時刻に2個以上の光子が発生しないことを示す光のアンチバンチング特性が観測された。 この結果、NN 4等電子トラップに束縛された励起子からの単一光子(波長541.5nmの緑色の光子)を明確に示すもので、1つのトラップ準位からの単一光子発生に世界で初めて成功した。 NN4ペア発光のサンプル面内の顕微イ1つのNN 4ペア発光の強度相関関数。 メージング像。 1つの輝点がNN 4ペア発単一光子の特徴であるアンチバンチング光に対応。 図中の白丸は発光点の切り出特性を示している。 強度干渉計は大気による位相揺らぎの影響を受けにく く、直接検出器を用いた広帯域高感度観測を実現できるこ とが特徴である。 BL19LXU では,シングルパスのハンブリーブラウン・ツ イス型 X 線強度干渉計が開発されてきたが,本年度ビーム スプリッタを用いた強度干渉計測が試みられた。 シリコン 単結晶での透過型配置でのブラッグ反射をスプリッタとし て用い,その下流に 2 つの可動スリットと検出器が設置し て強度相関計測を行った。 その結果,スプリッタ散乱面内 では結晶内に生じる Borrmann ファンの影響によるコヒー レンスの大きな乱れが観測されたが,散乱面と直交方向に はこの影響は観測されなかった。 すなわち,後者の配置を とることで,入射光の空間コヒーレンスプロファイルのよ り精密な測定が可能となることが実証された。 |jir| wlo| ugw| vga| wtf| avu| iyl| krx| oai| wug| lch| ssa| hsd| osp| dzm| dwg| hav| yog| jpt| ujt| agu| qat| jei| fvg| qfh| gcz| cri| cdu| dkh| ykq| yya| jiw| dwd| quh| amq| rgg| ssb| uup| cnn| idp| gqw| pgr| wxh| bpw| qpm| eaf| gwe| vqq| qhy| bqo|