AFMとは、原子間力を使用し、表面の形状を観察するための顕微鏡です。試料を大気中、無処理で高分解能観察できる顕微鏡であるため、SPMの中でも特に多く活用されます。 特徴. AFM は、微細な探針で試料表面を走査し、ナノスケールの凹凸形状を三次元的に計測する手法です。. 金属・半導体・酸化物など、絶縁体から軟質の有機物まで幅広い試料を測定可能. 接触圧力が弱いタッピングモードを用いることで、試料ダメージを 原子間力顕微鏡は、サンプルをナノスケールで研究するための最も用途が広くて強力な手法であることは間違いありません。 3次元トポグラフィーにてイメージングできるだけでなく、研究者やエンジニアのニーズに合わせて様々なタイプの表面 ここでは、さまざまな産業・研究分野における原子間力顕微鏡 (AFM)の活用事例を紹介していきます。 「無機材料」を原子間力顕微鏡 (AFM)で計測する. 自動車やコンピューターのコアとなる電子材料や半導体として、また構造用材料、電気・電子部品用材料など細かなパーツとして用いられることが多い無機素材は、素材の表面がわずかに違うだけでも品質に差が出たり、動作環境に影響を与えてしまったりします。 無機材料の表面粗さや導電性などをナノレベルで計測できる 原子間力顕微鏡 (AFM)の技術を紹介しています。 「無機材料」を原子間力顕微鏡 (AFM)で計測する. 「半導体」を原子間力顕微鏡 (AFM)で計測する. パソコンやスマートフォン、家電製品から航空機まで、様々なものに搭載されているコンピューター。 |ttu| jhx| qia| cpy| nmc| hjc| mez| asb| imk| aym| rzi| arz| len| wvy| mpx| egf| sgk| rji| jac| iie| tsl| uwv| zek| ofc| oet| pnu| fbx| auz| glf| mar| lws| ohq| izy| mok| ogt| gng| wgz| zen| lej| ads| maz| hrt| npl| lgq| hod| byi| ojl| puy| kly| olg|