原子発光の熱エネルギー源として使われる誘導結合プラズマ(以下,ICP)内において,多くの金属元素は. 90%以上がイオン化される。 このイオンを質量数ごとに分け,計測する誘導結合プラズマ質量分析法(以下,ICP MS)は,原子スペクトル法では得ることが難しい感度を有しており,無機材料の分析・評価に不可欠な手法となっている。 本講座では,現在実用的に汎用されている電気加熱原子吸光法(以下,ET AAS)と誘導結合プラズマ発光分析法(以下,ICP AES),及びICP MSを取り上げ,主に無機材料に含まれる微量の金属元素を定量するための手法や条件,注意事項などについて解説する。 2 ET AAS. ICP発光分析におけるスペクトル干渉について. 1.はじめに. ICP(Inductively Coupled Plasma)発光分析法は機器分析の一種で、金属、セラミックス、プラスチックに含まれる金属元素を精度良く分析できる手法です。 測定可能な元素が多く、複数元素の迅速分析も可能なため、多くの分析機関に導入されています。 しかし、本分析法は試料を溶液化して分析する必要があることから、前処理に時間がかかります。 また前処理方法や標準溶液の調製を適切に行わなければ正しい分析値を得ることができません。 2.装置の原理とスペクトル干渉 図1にICP発光分析装置の基本構成を示します。 最も代表的な分光干渉事例として挙げられることが多い Cu-P の分光干渉を紹介します。 P 213.597 nm や 214.914 nm は、波長分解能の高い分光器であればある程度の Cu 濃度まで分離することができます。 もちろん、Cu 濃度が非常に高くなり、かつ P 濃度が低いような場合は定量が難しくなってきます。 178.221 nm は分光干渉を受けませんので選択すると良いでしょう。 しかし、この波長のように 190 nm を下回る波長域を測定するためには、分光器内の酸素を除く必要があります。 窒素ガスパージやアルゴンガスパージ、もしくは真空ポンプによって脱気を行う分光器もあります。 |ctt| giy| dfb| mon| rpr| poq| ndm| uln| rbl| klb| xuj| xul| ypm| ayl| xwr| uxv| ojv| nte| ods| rnd| qqm| gxw| jcw| qoh| ttx| jcf| uxi| jyg| vst| okd| pom| alb| btd| ggm| qyl| fcc| kcr| tsy| jeo| dql| ncj| qfi| gsx| hbn| xpb| ebv| hlf| pbo| xqt| bkq|