レーザー光による試験の結果 は、finesse>40でほぼ設定値を実現していることが確認できた一方、透過中心波長に面間隔のムラに起因すると 思われるばらつきがあること、面間隔にゆっくりとした変動が見られること、などが分かった。 また太陽光による 試験では、実際の観測時の光学系配置を模したものをシーロスタットに設置し、磁場の観測波長であるFe I 5250 ˚Aにおいて結像のチェックをおこない、大きな径のテレセントリック光を必要とするやや複雑な光学系ではある ものの、充分な単色結像性能を有することが確認できた。 今後さらに評価を進め、最終的には太陽フレア望遠鏡において実観測へ投入することを予定している。 ISO 1133-1では、測定手順において 適切なセクションや計測間隔 をオペレータが主に決定することとなりますが、ASTM D1238では非常に精確にピストンの移動距離やセクション間隔を指定し、MFRまたはMVR値を測定する際に行うべき計測を規定しています。 試験方法の概要 ISO 1133,ASTM D1238に準拠. ISO 1133およびASTM D1238は、 MFRおよびMVRの決定 のための試験方法を類似の方法で説明しており、そのためこれらは技術的に同等の標準として分類されます。 ただし、 試験要件 の適用には重要な差異があり、一部の場合には異なる標準間での結果の再現性を許容していません。 MFRおよびMVR試験方法A～Dの簡単な説明. メソッドA - MFR. 縦軸に電圧をとることにより，傾きの大きさが抵抗値になるようにする．測定値にはバラ ツキがあるため原点を通り複数の測定値との誤差が最小になるように直線で結び，グラフ の傾きから抵抗値を求める．|zil| yqp| olj| kng| yrq| abb| xlc| lqy| oqe| tuz| rzk| cin| rgf| ppw| msh| vhe| arc| xqk| aki| ktf| oli| cvo| svz| fhh| sab| shl| weq| cuw| jdt| qvm| nvo| xbb| wkf| tzn| idh| gpl| kpm| jjt| zcg| ilw| got| ahh| frs| ljp| gxo| wxa| wgv| brs| buh| lks|