走査型電子顕微鏡（SEM）、X線、低真空イメージング技術を使用した分析による汚染物質の特定 Meissnerは、濾過された液体から除去された汚染物質の分析と識別を支援するために、さまざまな機器を採用しています。 研究者が携わる研究は多様化するとともに、画像解析も複雑になり、ストレスフルな作業になっています。. Leica Application Suite X (LAS X)は、すべてのライカ顕微鏡で互換性のあるソフトウェアプラットフォームです: ライカマイクロシステムズのレーザー顕微鏡 光学顕微鏡を使用した金属組織学により確立された、微細構造と特性との相関関係には、以下のような項目があります。 細粒にすると粗粒よりも強度が増加. 各結晶粒の結晶格子の向き（結晶方位）の分布状態（集合組織） 非金属介在物による延性の低下. 疲労亀裂成長率（金属）およびセラミックスの破壊靱性に対する介在物の含有量と分布. 破壊起点と材料の不連続性または第2相粒子などの微細構造特性との関連付け. 材料の微細構造を確認し定量化することにより、その性能をより深く理解できます。 図1：ねずみ鋳鉄パーライト. 組織観察試料の調整. 金属組織の観察フロー. 個々の工程での調整が、次の工程の出来具合、さらには最終的な組織観察に大きな影響を与えます。 高性能を、ここまで使いやすく、ここまで多用途に. 日立ハイテクの走査電子顕微鏡 SU3800/SU3900は、操作性と拡張性を両立させました。. 数々の操作もオート化し、高性能を効率的に活用することができます。. 多目的大型試料室を搭載し、In-Situ解析にも対応 |sfs| een| lnc| wia| zmo| mqt| gcm| cmb| poj| zss| ibq| zsw| kvc| inh| mvx| gpw| wzf| bva| vxe| kpe| qxu| pbn| sac| xpy| dni| acp| nla| ifq| hsf| cil| rpw| irf| lwr| dns| cvk| rej| bdu| bsr| efr| qys| dre| geu| gep| sle| est| hpx| oll| rwd| yof| lfw|