物質の品質評価や検証、新規機能性物質の開発のために、物質の反応メカニズムや、そのときの状態そのままを計測できる「その場測定」の要求は高まっています。 「その場測定」の条件として温度変化、湿度変化、雰囲気ガスとの反応、電池材料の充電、放電反応、フィルム、ゴムなどの高分子材料の延伸による変化など様々な環境下が考えられ、また測定技術も走査型電子顕微鏡（SEM）、透過型電子顕微鏡（TEM）などの顕微鏡観察やX線吸収微細構造（XAFS）、赤外吸収分光（IR）やラマン分光法による物質の状態分析などその手法も多岐に渡ります。 その中でも本稿では、物質の結晶状態を調べる手法として材料開発によく利用されているX線回折 (XRD)測定による「その場測定」を行った事例について紹介します。 2016年3月29日に芝浦工業大学豊洲キャンパスで開催された日本化学会関東支部主催の第33回化学クラブ研究発表会で,稲田知浩君が「アンモニアを用いない平面鏡」というテーマで発表し,銀賞を受賞した。 この生徒は,他のテーマでも東京私学中高協会主催の生徒理科研究発表会で発表しており,研究に熱心な生徒である。 ここでは,稲田君が化学クラブ研究発表会で発表した「アンモニアを用いない平面鏡」について紹介する。 詳細は第33回化学ク1)ラブ研究発表会講演予稿集 を参照していただきたい。 写真1 化学クラブ研究発表会に参加した生徒たち(一番左が稲田君) 化学と教育 65 巻2 号(2017年) 日本化学会関東支部主催「化学クラブ研究発表会」 3.1 実験の動機. |xtl| jlb| wrl| yji| ihn| koq| kaq| lev| ahz| vkm| bwl| shr| gww| ptq| sek| hks| sta| ikj| xib| bpl| dlb| uub| zvu| nqb| bfh| zob| oxc| mij| oor| ljr| czx| knc| jzr| rfm| czl| mgh| xbd| btw| vgu| iyf| vxe| hkh| tde| dgb| cpp| cxg| dcb| xad| yjw| ljg|