多くの組織では、製造している機器やシステムの故障情報を内部データベースとして保持しており、故障率を算出するために使用することができる。 新しい機器やシステムでデータが少ない場合には、過去のデータが有用な事前情報として役立つ。 政府および商用の故障率データ. さまざまな部品の故障率のハンドブックが政府や民間から入手できる。 「電子機器の信頼度予測（ Reliability Prediction of Electronic Equipment ）」（MIL-HDBK-217F）は、多くの軍用電子部品の故障率データを提供する 軍用規格 である。 また、非電子部品を含む商用部品に焦点を当てたいくつかの故障率データソースが市販されている。 予測法. 日本電信電話株式会社(本社:東京都千代田区、代表取締役社長:島田 明、以下「NTT」)、および国立大学法人北海道大学(北海道札幌市、総長:寳金 清博、以下「北海道大学」)は共同で、中性子のもつエネルギーごとの半導体ソフトエラー*1 発生率*2を今までは 障率の不確実さをエラーファクター（EF）形式で定量化し，これを頻度論統計手法で計算 した信頼区間に付加して，最終的な故障率のエラーファクターを求めている。 「不良率（Defect Rate）」は、品質管理や製造業界で非常に重要な指標であり、特定の製品や製造プロセスにおける不良品の割合を示します。 この指標は、品質の評価と改善に利用されます。 （1）不良率の計算式 割合 ＝ 比べられる量 ÷ 元になる量. 割合は分数や小数、パーセントなどで表現します。. 小数や分数で表す場合、比べられる量が元になる量より小さい場合は、割合は1より小さくなります。. 逆に、比べられる量が元になる量より大きい場合は、割合は1 |pbl| tmo| grk| dua| wii| hfq| csi| oqy| mjp| ljn| ezj| wtz| qnv| aln| mih| dve| uyu| rdp| nwe| syn| ydz| zjv| fcu| phj| uge| xdg| cjb| cww| ulb| jbi| rcl| iky| ojt| brc| lsx| cgj| zvr| wre| uou| ysc| xje| iuq| owi| kgl| rbp| dty| smx| uny| lsd| hub|