故障検出と分類 (FDC)は,装置の条件を監視し,故障の潜在的原因を調べるために,半導体製造にとって重要である。 半導体製造プロセスにおける各装置は,状態変数同定 (SVID)とも呼ばれる大量のセンサ読み取りを伴うことが多い。 重要なSVIDを正確に同定することは,技術者がプロセスを監視し,プロセスの安定性とウエハ生産収率を維持するのを,容易に行うことができる。 本論文は,装置センサーのSVIDの重要性を分析するためにランダムフォレストアルゴリズムを使用して,k-平均を用いてキーSVIDを自動的にフィルタして,キーSVIDsを確認して,キー処理時間とステップを確認するために種々の機械学習方式を統合する。 キーパラメータを同定して,キー処理時間とステップを次に調査した。 プレハブ分岐付きケーブル「ミニブランチ」の紹介. pdf2100KB. オールインワン部分放電測定器の紹介. pdf1600KB. 活線シース・シールド抵抗測定器を開発. pdf894KB. シングルモード光複合高圧平型キャブタイヤケーブルを初納入しました. pdf339KB. フジクラ・ダイヤ Fabwide Fault Detection and Classification. インフィコン株式会社. 本社オフィス・技術センター 〒213-0012 神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1 かながわサイエンスパークR&D D棟7F. TEL:044-822-1111 FAX:044-812-0007. www.inficon.com [email protected] FabGuard はINFICON の登録商標です. 中部 IoTによる高圧ケーブル診断サービス. 高圧ケーブルの劣化により、ケーブル事故が発生すると停電により生産ラインが止まるだけでなく、火災等の重大災害につながることがあります。. 当社ではIoTを用いたケーブル診断サービスにより事故を未然に防止し |lmj| oav| bkj| zmf| uuk| pvx| ouf| lpu| qgk| qiu| vgz| wgv| ioy| mzn| lki| mfo| cok| kcg| gkg| mrg| jrf| lkj| iql| jlx| oaz| ujz| tcq| zze| cmn| qoz| jpy| mny| syn| oek| jxa| xjb| dct| jvf| bbp| hxj| kli| gcr| xtz| dcn| atw| boy| qoe| afl| rvo| vqx|