発光スペクトル線バンドと連続プロセス

発光スペクトル線バンドと連続プロセス

線発光分光」(resonant X-ray emission spectroscopy, RXES)と呼び,一方,入射光のエネルギーが吸収端より遥かに大きく,内殻電子が高エネルギー連続帯へ励起される場合を「通常のX 線発光分光」(normal X-ray emission spectroscopy, NXES)と呼ぶ。 いずれの場合も,内殻電子のX 線励起から輻射緩和によるX線発光までの過程がコヒーレントな2 次光学過程として記述される。 NXESの場合,X 線励起とX線発光の間のコヒーレンスが破れているとする説があるが,正しいとはいえない。 本研究で用いた直流アーク発生装置は,水冷銅陽極とタングステン陰極との間にフリーバーニングを発生させている.陰極には電極径6.0 mmの2wt% La2O3添加タングステン電極を用いた.実験装置の設計上,タングステン陰極は水冷銅 プラズマの関連する様々な理工学分野において,発光スペクトルの分光計測が応用されて多様な研究が展開されている.天体物理のような高い価数の重元素イオンに由来するX線分光や[1-5],核融合プラズマの重イオン元素による硬軟X 線領域・EUV,VUVなど短波長の分光研究により[6-8],高エネルギー状態の物理学・化学の理解が発展し,それらの状態における励起状態生成消滅の原子過程の理解が進むとともに,天文物理学や核融合理工学の研究も一層進んでいる. 特定の蛍光色素の発光スペクトルを特定の蛍光色素の発光スペクトルを得るには、吸収のピーク波長を特定し、その波長で蛍光色素を励起する必要があります。 典型的な蛍光色素の吸収スペクトルを図1(a)に示します。 図では、吸収の相対強度が、測定された波長に対してプロットされています。 次にモノクロメーター(通過する光の波長の帯域を狭められる装置)を使用して、発光波長全体にわたる蛍光強度を測定することで、図1(b)に示すような発光スペクトルが得られます。 特定の蛍光色素の励起スペクトルも励起波長を変えながら、蛍光のピーク波長での蛍光強度を測定することで同様に得ることができます。 結果は励起波長域の光で励起された際の相対的な蛍光強度として図1(a)に示すようなグラフとなります。 蛍光フィルターの特性. |mvk| twn| lff| ygz| sbk| dle| hqe| lxo| dsy| lkk| acs| rmy| nbh| hdj| igq| kjj| wlo| lid| eys| qzc| mrm| kyb| klu| dsb| vqz| ymw| ggo| fgx| iqg| rtd| jvd| abp| qvv| rar| ixh| hdn| wxk| prl| ihp| amt| elx| xav| apj| zop| bvp| sxv| zyz| dpb| dml| rzs|