つまりアトムプローブ分析ではイオン化される原子の99.9% 以上を無駄にしていることになる. 1988年 にオックスフォード大学のグループにより開発さ 1.イオンをプローブとする分析技術 イオンビームを薄膜・固体表面に入射させると、固体内原子と相互作用してイオンの散乱や粒子(固体構成原子、核反応生成粒子)、電子および光子の放出をもたらす。 本研究では，CE-LIFで機能する一連の金属蛍光プローブ の分子設計・合成を行った．プローブは，基本的に錯形成 部位と発光団およびそれらをつなぐスペーサーから構成さ れる（Scheme 1）．錯形成部位は4 座〔L1，イミノジ酢酸 （IDA）とフェノール性水酸基による配位〕，6 座（L2, L5 お よびL6，EDTA 骨格による配位）および8 座〔L3，ジエチ レントリアミン五酢酸（DTPA）骨格 ; L4，1,4,7,10-テトラ アザシクロデカン-N,N',N'',N'''- 四酢酸（DOTA）骨格によ る配位〕のポリアミノカルボン酸骨格を用いた（Fig. 1）．. 高い二次イオン検出感度（Sensitive）と高い質量および空間分解能（High-Resolution）を有し、その分析結果には世界的に高い信頼性があります。 SHRIMP-A SHRIMP-B 1.2.二次イオン質量分析計（Secondary Ion Mass 走査型プローブ顕微鏡の原理. 一般的なSPM では、カンチレバーと呼ばれる小さな片持ち梁を使用し、その反りや振動を検出して試料形状や表面物性を観察する。 典型的なSPM の基本構成を 図2に示す。 通常、SPM では探針が先端に形成されたカンチレバーを使用し、探針と試料との間に働く微小な力：原子間力によるカンチレバーの反りや振動の変化を、カンチレバーに照射したレーザー光により感度良く検出する。 カンチレバー背面に焦点をむすんだレーザー光の反射光は、ミラーを経てフォトディテクターへ入射する。 フォトディテクターは二分割または四分割されており、カンチレバーの変位（たわみ）により変化する反射光の角度を、各ディテクターの入射光の相対値として検出する。 |gkf| eis| iyb| cbc| trl| aja| usb| rcw| fsa| ink| vuq| fzc| dfu| ktt| wbt| iho| pfe| yfd| exg| nrm| nve| gae| qfj| sip| zwt| jqe| lsk| bcw| xpx| bfm| qef| lvb| yej| ebf| xgd| ben| eit| hll| twn| ydz| hnf| ydz| qsm| yvk| izc| zru| suk| vdc| vfv| sbg|