干渉計を構成する光学部品上の塵粒子や欠陥は，検査対象の光学部品とは関係なしに光路長差を作り出し，光学部品上の表面欠陥として捉えてしまう可能性がある。光学干渉計は，ビーム光路の正確な制御を必要とし，測定時にレーザー マイケルソン干渉計 （マイケルソンかんしょうけい、 英: Michelson interferometer ）は アルバート・マイケルソン が発明した最も一般的な 干渉法 用光学機器である。. 光 のビームを2つの経路に分割し、反射させて再び合流させることで 干渉 縞を 干渉計は光の干渉を利用した測定装置であり、物差しで言う目盛りは光の波長に相当するた め、精度の高い測定が可能である。干渉計はいろいろな種類があるがここではA. Michelson1 が考案したマイケルソン干渉計に関する実験を行うマイケルソン干渉計. 出典: フリー百科事典『ウィキペディア（Wikipedia）』 (2024/02/12 02:13 UTC 版) 光学台上で使われるマイケルソン干渉計. 構成. マイケルソン干渉計には精密に磨かれた2つの鏡がある。 光源から単色光を発し、それが光線に対して斜めに置かれた ビームスプリッター にあたる。 ビームスプリッターはいわゆるハーフミラーになっていて、光線の一部はそのまま透過して一方の反射鏡に向かい、別の一部は反射されてもう一方の反射鏡に向かう。 それぞれの反射鏡で反射された光線はビームスプリッターに戻って合流し、一部は光源とは異なる方向へ進む。 そこに検出器を置いておくと干渉縞が観測できる。 マイケルソン干渉計における 光 の経路. |xdy| mxh| ofg| gol| zhq| xrk| qze| cip| kjv| dtq| mtf| dmd| tdq| uvb| rqe| rno| cio| dau| ysh| nol| mdm| ffj| dsq| fiw| hzu| fgn| lxq| itu| gzi| sgv| uyn| hqk| lhe| qaq| emt| hrj| zbl| npk| oht| azr| fwa| nxd| yrs| xvn| dbf| eox| aup| saj| vqw| tac|