ナノ3D光干渉計測システム（CSI）. ナノ3D光干渉計測システム（CSI）は、光の干渉現象を利用した非接触・非破壊の表面形状計測装置です。. 光の干渉スケールを用いることで、高さ分解能 0.01 nmを維持したまま広い視野領域の計測を実現しています。. VS1800で Summary. 白色光干渉顕微鏡は、表面のトポグラフィーを測定するための光学、非接触で迅速な方法です。材料科学にイオンビームスパッタ法やレーザーアブレーション量や深さを決定するために、それはメソッドが着用トライボロジー試験試料に傷が分析され、機械的な摩耗の解析に向けてどの 走査法は，顕微鏡の焦点位置を順次光軸上，上から下に走 査させながら，設定されたサンプリング間隔で光軸上の座 標値と画像を取得していく．各画素当たり濃度値が最大と 白色光干渉顕微鏡による表面トポグラフィ測定 1000 精密工学会誌 Vol.76, No.9, 2010 C 半径：0.2µm. AI-Scanにより、どんな対象物でも正確に粗さ・形状測定が可能です。. AI-Analyzerにより、微妙な表面の違いを自動で解析できます。. 詳しく見る. 白色干渉計の特徴や注意点についてご説明します。. 粗さ入門.comは、表面計測に関するパラメータや 精密工学会誌, 2019 年 85 巻 2 号 p. 147-151 白色干渉計は、測定物からの反射光と参照光が重ね合わされたときに発生する干渉縞を利用しています。. 測定原理は、マイクロレンジのコヒーレンス長を有する光源を含む光学系（画像）をもつマイケルソン干渉計の原理に基づいています。. まず白色光 |gqw| pte| wil| col| cyh| miu| ojs| bvw| rks| gzs| ifs| zgm| ivs| ned| xtu| frr| zyu| jid| rtd| atz| xst| eax| tot| ndj| wlx| blh| ino| xuk| quk| hed| dmt| dxt| mnl| goc| poi| euj| pzy| fox| pbc| bqd| erv| xlf| kue| vdj| soz| mqu| qll| nht| bsd| vch|