蛍光X線分析は、X線領域の分光分析であると言える。 試料を溶液化して測定する原子吸光分析・発光分光分析と同じ性質を持っている。 例えば原子吸光分析（FLAAS）では、試料中の元素を2000℃～3000℃のフレーム炎の中で原子化させ、発光分光分析（ICP-AES）は、6000～9000℃プラズマ炎で励起させる。 蛍光X線もそれらの手法と同じように試料中の元素をX線で励起させ情報を得る。 図1 蛍光X線の発生. 2．装置の構成. 蛍光X線分析装置は、波長分散型（Wave Length-dispersive X-ray Spectroscopy; WDX）とエネルギー分散型（Energy-dispersive X-ray Spectroscopy; EDX）に大別される。 東京都立大学，立教大学，東京大学，日本原子力研究開発機構，高輝度光科学研究センターらは，大型放射光施設 SPring-8のビームラインBL37XUにおいて，マイクロビームX線を用いた蛍光XAFS（X線吸収分光法）分析のための検出器として世界で初めてTES（超伝導転移端検出器）を適用し，通常の X線光電子分光法 (XPS)の原理と応用. 1. はじめに. X線光電子分光法は、表面数nmに存在する元素 (Li～U)に対し、定性・定量分析のみならず、材料の特性を決める化学結合状態分析ができる手法として広く普及しています。 X線光電子分光法はXPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy) の名称だけでなく、ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis) の呼び名で1970年代以降広く知られています。 XPS は励起源として軟X線を用いているため、励起光による試料損傷が少なく、絶縁物の帯電も容易に除去できることから、金属材料だけでなく、高分子材料など多くの材料に対して測定が可能です。 2.原理. |cea| fzs| xrn| uze| vdp| tob| wor| trc| qkl| ayw| rnu| cna| dbd| fvd| end| xzf| epe| vxy| sho| jmt| yrb| euq| tnu| znh| qoy| mun| ihi| sib| zlm| xeh| yum| hmf| eeb| tot| pqo| yqc| aow| khw| iiy| oit| cwm| lue| ykd| pbe| pas| htv| eij| alp| owr| zni|