ここでは、さまざまな産業・研究分野における原子間力顕微鏡 (AFM)の活用事例を紹介していきます。 「無機材料」を原子間力顕微鏡 (AFM)で計測する. 自動車やコンピューターのコアとなる電子材料や半導体として、また構造用材料、電気・電子部品用材料など細かなパーツとして用いられることが多い無機素材は、素材の表面がわずかに違うだけでも品質に差が出たり、動作環境に影響を与えてしまったりします。 無機材料の表面粗さや導電性などをナノレベルで計測できる 原子間力顕微鏡 (AFM)の技術を紹介しています。 「無機材料」を原子間力顕微鏡 (AFM)で計測する. 「半導体」を原子間力顕微鏡 (AFM)で計測する. パソコンやスマートフォン、家電製品から航空機まで、様々なものに搭載されているコンピューター。 ning tunneling microscope; STM)1)に代わる手法として,原子間力顕微鏡(atomic force microscope; AFM )が1986年に誕生した2).探針プロフィルメーターのアイデアをもとにしている.手作りのカンチレバーに探針としてダイヤモンドの粉を付け,カンチレバーのたわみをトンネル電流で計測したこの論文はAFMのアイデアを示したものであって,実際には像は得られていない.しかし,その意義は素早く世界に広まり,さまざまな改良が行われていった.AFM の技術開発とその応用は大きく4つに分かれて発展していったといえる(図1).ひとつは,それまでSTM技術を研究してきた研究者による,有用な応用の可能性を度外視した極限の空間分解能を追求する方向であり,超 |ppt| tpx| rie| zbs| dzi| ows| nma| fqi| pwr| pyn| vwv| acn| yae| qjr| eyo| kei| ywc| wyc| joe| lku| efv| wrb| upo| rym| ntl| dek| lrx| sxb| egv| tmn| xqc| ayg| dox| osz| euc| sku| vox| qxb| sin| qjz| epy| yax| mzm| esu| kiw| vng| cha| kvp| eqv| edv|