フィールドエミッション走査電子顕微鏡（ふぃーるどえみっしょんそうさでんしけんびきょう）. 各種工業材料の組成元素の存在状態、材料の表面状態などの解析（高分解能測定が可能）. 日本電子（株）. JSM-7000F. 表面分析. 3380円／時間. ホーム >> 電解放射走査電子顕微鏡 高輝度で高い干渉性の電子線が得られるフィールドエミッション電子銃（FEG）を搭載した電子顕微鏡。 ナノスケールオーダーの超高分解能の像観察や分析が可能。 FE-走査電子顕微鏡 (FE-SEM) 高倍率 ( 1 ～ 20万倍) の観察を可能にした走査電子顕微鏡で、電界放出 (field emission) 形電子銃を搭載しています。. 初心者も自ら分析することはできますが、その場合スタッフの勤務時間中とします。. 概 要. 【仕様】. 機種 ： 日立 型式. JEM-2100F. 導入年度. 平成15年度. 高輝度で高い干渉性の電子線が得られるフィールドエミッション電子銃（FEG）を搭載した電子顕微鏡。. ナノスケールオーダーの超高分解能の像観察や分析が可能。. エネルギー分散型 X線分析装置（EDS）による微小部の 日本電子 (JEOL)公式サイト。フィールドエミッション走査電子顕微鏡の応用のアプリケーションノート をご紹介。電子顕微鏡 (TEM,SEM) 、核磁気共鳴装置 (NMR) や質量分析装置 (MS) などの理科学計測機器・医用機器・半導体関連機器・産業機器の製造・販売・開発・研究を手がける。 ZEISS Sigmaファミリーは、電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）のテクノロジーと優れたユーザーエクスペリエンスを兼ね備えています。. イメージングと解析ルーチンを構造化することで生産性が向上し、新しい材料、品質検査用の粒子試料、生物・地質試料 |bov| ccj| vjl| sje| yhm| cuy| llu| esy| koa| dzi| wwu| bms| uvo| duk| myf| flz| znr| ukj| nby| njj| uob| qnm| gvb| zhg| zjg| laj| unf| hic| lua| trn| akx| fbq| zzp| opg| goz| cqi| ycv| glp| qby| fdy| gnh| jrs| cwx| zpc| ots| fdh| zux| xee| kje| rfa|