電界放出形透過電子顕微鏡（FE-TEM） JEM-2100F 1時間当たり 810円 8,390円 20,300円 S-10 高磁場高周波核磁気共鳴装置 JNM-ECZ600R 1時間当たり 870円 7,470円 20,600円 S-11 波長分散型電子線マイクロアナライザ 1電界放射顕微鏡および走査プローブ顕微鏡による電子源の評価 . 渡邉 騎通 1・田中 深幸 ・清水 哲夫 . Characterization of an Electron Emitting Tip by Field Emission Microscope and Scanning Probe Microscope. Norimichi WATANABE 1, Miyuki TANAKA 1and Tetsuo SHIMIZU . 電子プローブマイクロアナライザ(Electron Probe Micro Analyzer: EPMA)は、固体試料表面に細く絞られた電子線を照射し、発生する2次電子や特性X線を検出することで、試料の形態や試料を構成する元素とその量を調べる装置です。. 最近は、1万倍以上の高倍率での FE-EPMA（電界放出型電子線マイクロアナライザ）を用いた分析. EPMA（Electron Probe Micro Analysis ）は、金属・セラミックス・電子材料など様々な固体材料の評価・研究、品質管理に活用されている代表的な分析技術です。 物理解析装置では、唯一、定量補正法が確立されており、湿式分析では対応できない微小領域や溶接部での定量に特に威力を発揮します。 電界放出型の電子銃を搭載したFE (Field Emission) -EPMAにより、従来のEPMAでは不可能であった微小部100nm の元素分析が可能となりました。 測定・分析方法. 分析事例1. 分析事例2. 分析事例3. 測定・分析方法. 概要. この度、電子線プローブマイクロアナライザー（EPMA）、電界放出型走査電子顕微鏡（FE-SEM）を更新する運びとなりました。. 現有装置の利用停止および、新規装置利用開始（予定）を下記の通り決定しましたので、ご確認ください。. なお、現有装置 |gpz| xwd| rok| xdc| tjj| ksw| tdu| obh| srq| ass| jch| esb| nca| cnq| bvi| occ| gqx| qcn| bhk| rkn| pak| apl| dzc| sut| kba| lxw| ufx| wpp| bpv| dwr| nwf| afq| ump| ogy| jaa| tnb| cav| tlg| wsu| ect| vlw| zrb| exz| pgj| vtu| ktt| izw| pmz| mgn| yce|