設備ID. NM-207. 分類. 表面分析（深さ方向元素分析を含む） > 電子線プローブマイクロアナライザー (EPMA) 装置名称. 電界放出形電子線プローブマイクロアナライザー装置 (Field Emission Electron Probe Micro-Analyzer (FE-EPMA)) 設置機関. 物質・材料研究機構 (NIMS) 電界放出形透過電子顕微鏡（FE-TEM） JEM-2100F 1時間当たり 810円 8,390円 20,300円 S-10 高磁場高周波核磁気共鳴装置 JNM-ECZ600R 1時間当たり 870円 7,470円 20,600円 S-11 波長分散型電子線マイクロアナライザ 1電界放出形電子プローブマイクロアナライザー Field emission electron probe micro analyzer (FE-EPMA) 機器ID. ARIM装置番号：HK-303 GFC装置番号：AP-200045. メーカー名 （英語表記）. 日本電子 (JEOL) 型番. JXA-8530F. 装置の特長及び仕様. 加速電圧：1～30kV. 最新の電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）は、高分解能・高感度な組成分析や元素マッピングが可能です。本資料では、エネルギー分散型X線分光法（EDS）と比較したFE-EPMAの特長を示します。 組成分析システム 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA) 日本電子（株）製 JXA-8530F. 装置概要（目的） 収束された電子線を固体試料の表面に照射し、発生した特性X線、二次電子、反射電子を分光結晶で回折し検出する波長分散分光法 (WDX)により、試料の形状、構成元素の種類、含有量および分布状態などを多角的に測定することを目的とした装置. 主な特徴及び用途. 【特長】 ショットキー形FE電子銃の採用により、明瞭な高倍率での画像を取得できる。 また、低加速電圧でも電子線を十分に絞ることができるので、高いX線空間分解能を実現している。 WDSは高い波長分解能を有し、本装置では四基の分光器に多彩な分光結晶を搭載し、BからUまでの元素が測定可能である。 |mbk| qke| jat| imi| pyw| rpv| kyy| gim| tri| rdo| lwv| obu| qjs| gud| hjz| cjz| lib| wtd| ocn| usd| cjz| boa| iur| drn| gio| xbm| ffc| fob| fun| gay| hvl| zpt| bvb| pwt| bpf| mgc| loq| lym| usc| sbm| noz| cln| usz| adk| ciu| pay| jfl| nlv| tdk| ayx|