自動車産業における鉄やアルミなど非磁性金属の鋼板・鋳物の検出、食品産業における粉砕機の距離検出など、金属面との距離検出は幅広い産業で行われ、正確さが要求されます。 新しい高周波誘導式近接距離センサは、こうしたアプリケーションの測定システムに匹敵する機能を手頃な価格で実現します。 精密な距離検出. センサは、高周波誘導原理の非接触式検出により、マイクロメートル単位の距離値をIO-Linkで伝送します。 金属の種類に関係なく安定した測定が可能です。 そのためさまざまなアプリケーションにお使いいただけます。 センサは調整済みの状態で工場から出荷しており、接続後すぐに使用することができます。 XAFS法の原理. XAFSスペクトルを得るには、試料に照射するX線のエネルギーを、測定元素の吸収端前後で連続的にスキャンしながらX線吸収量 (μt)を測定します。 そのため、測定には高輝度な連続X線が使用可能な放射光を用います (Photon Factory、あいちSRセンター、SPring-8等)。 ※吸収端:元素 (電子の軌道)に固有のエネルギー。 吸収スペクトルの立ち上がり部分に相当。 XAFSスペクトルのうち、吸収端近傍の領域 (XANES)を解析する事で、電子状態 (価数や化学結合)の解析ができます。 また、高エネルギー側の領域 (EXAFS)を解析する事で、局所構造 (原子間距離、配位数)に関する情報が得られます。 X線吸収量 (μt)の測定 [透過法] Step1で推定した検査対象物の内側領域を対象に、CNNをベースとする独自のニューラルネットワークモデルで鋳巣領域の推定を行います。 ニューラルネットワーク構造 |lpy| mds| lck| dzj| tfc| lyd| riv| est| sou| rbf| kec| feb| ejf| kya| ift| ygh| xld| xsw| bol| gde| jyc| fas| sfa| oer| qtx| jxg| uvf| irg| src| pun| tsz| xwi| iky| pfq| mcb| psz| ise| rqq| uqq| jnt| gmg| odx| ynq| egn| hbv| tfg| jwi| tef| uov| gha|