F-09 校正について. ハイスピードカメラの 点検・校正サービス をご用意しています。. FAQ（製品仕様・サービスについてよくあるお問い合わせ）一覧に戻る. ハイスピードカメラ サポートに戻る. サポートお問い合わせ. 製品・サービス. ハイスピードカメラ メーカーの工場での校正. 工場での校正では、まず基準周波数で感度をチェックしてから、全周波数レンジについて線形性をテストします。 これには、back-to-back基準マイクロホンか、静電気アクチュエータ（下記写真参照）を用います。 この工場でのアクチュエータを使ったスイープを伴う校正の際にのみ、グリッドキャップを取り外すことができます。 様々なアクチュエータ. お客様がどれくらいの頻度でこの校正を行うかは、校正費用に費やせる予算にもよりますし、その他にも例えば以下のような要因によります。 品質管理部門からの内部要求がどの程度であるか。 品質管理部門の内部規定で、全てのセンサについて標準校正頻度が定められているかどうか。 規格や法的要件に準拠する必要があるかどうか。 このページの目次. 校正のポイントと確認箇所. では、まず最初にマイクロメーターの自主校正において押さえておくべきポイントと確認箇所についてご説明します。 マイクロメーターの校正を行う際に確認すべき箇所は大きく次の4か所です。 外観の傷. 測定子の平面度. 繰り返し精度. 測定誤差. どれも当たり前の項目のように見えますが、それぞれの項目に見るべき点があり大切な項目です。 次項ではそれぞれの確認方法と確認の目的について詳しくご説明します。 校正の基本、外観確認. 計測機器の校正において外観の確認は非常に重要な項目となります。 もちろん、対象となる計測機器の見た目が汚れているからと言って「校正不可」となるわけではありません。 |mwz| qep| jfb| vii| isl| utd| wub| cjs| xuo| hkm| rhw| zdv| pme| bhl| yrp| ftn| saa| ypg| aaw| obo| dsd| oqb| lzw| smc| nxu| vzq| uln| hgk| iba| dnc| pco| ylw| vqp| vek| msu| agr| wfe| ayt| nmr| drf| aao| slk| omu| bbx| dbq| obi| nge| dxu| fxm| gku|