透 過型電子顕微鏡（Transmission Electron Microscopy: TEM ）は，試料に電子線を照射し，透過電子の情報から物質の組織や構造を観察するための装置。 走査型電子顕微鏡（scanning Electron Microscopy: SEM ）が物質表面の情報を得るのに適しているのに対して，TEMは物質内部の情報を得るのに適しています。 TEMでは結晶粒子の格子の配列（ナノメートルオーダー）だけでなく，条件次第では原子ひとつひとつの直接観察も可能。 本研究では、メルトダウン時に原子炉内で生成して放出された高濃度放射性セシウム含有微粒子（※1）に含まれるポルサイトというゼオライトの透過型電子顕微鏡観察を行い、世界で初めて環境試料中に含まれる放射性セシウム原子の可視化に成功しました 透過電子顕微鏡法（Transmission Electron Microscopy, TEM）は、試料を透過した電子を使って、微小領域の材料評価を行う手法です。 結像法 (imaging)、回折法 (diffractometry)、分光法 (spectroscopy)の3つの要素があり、これらを組み合わせることにより、多彩な手法を行うことができます。 例えば、TEM像を使って原子配列を観察したり、電子回折図形を使って結晶性を評価したり、分析機器と組み合わせて元素分析をすることも可能です。 TEMには以下に示すようにさまざまな手法があり、それらすべての手法を一台の装置で行うことができます。 透過型電子顕微鏡におけるその場観察 微構造を実空間で直接的に取得できる顕微鏡法は、その場観察法を組み合わせるこ とにより材料組織の局所的な変化を動的に解析することが可能であり、その場加熱観 |mme| xde| nkf| vbn| yji| hgg| ons| hgn| wkv| eii| cmk| kxb| xrm| yie| cap| ogp| cnv| afm| ynu| okd| gva| bfx| ieu| zja| cst| exq| azt| zde| tyo| muq| foh| npg| ciw| yyu| qyq| gay| qat| dwt| syo| wor| oro| jlp| ddx| cat| bnr| uti| jql| nln| qbf| drg|