高圧機器のタンデル値の測定器 標準価格： 480,000円 （税込528,000円） 本装置は高圧機器(PT・CT・トランスなど)の診断を、tan δ値と漏れ電流で行なうため開発された商品です。 一般的に行われている試験法は、①直流電圧試験、②誘電正接 ( tanδ )試験、③交流電流試験、④部分放電試験がある。. 絶縁物に交流電圧を印加した場合、流れる電流 I は損失があるため、電圧 V より π/2 (電気角)進んだ充電電流より、わずかに δ だけ遅れ tan δ が大きくなると損失が大きくなる理由. tanδは日本語で誘電正接といいます。. その名が示すように、比誘電率におけるタンジェントの値です。. 目次. 比誘電率の虚部が損失を発生させる. tanδ. tanδの用途. 比誘電率の虚部が負になる理由. まとめ. 見積を取る. ISO 6721-4 に準拠した試験を行うための MTS の試験システムとソリューション：プラスチック - 動的機械特性（DMA）の測定 - パート 4：引張振動 - 非共振法。. もっと詳しく知る。. 概要. 性能を左右する要素. 測定. 関連項目. 誘電正接 （ゆうでんせいせつ、dissipation factorあるいはLoss tangent）とは、 誘電体 内での電気 エネルギー 損失の度合いを表す数値である。 その定義から「タンジェント・デルタ」、あるいは略して「タンデルタ」「タンデル」と呼ぶこともある。 コンデンサ 内での電気エネルギー損失の度合いを表す数値として用いられることが多い。 コイル において対応する現象として 銅損 および 鉄損 がある。 概要. 理想的な コンデンサ の場合、外部から与えられた 電荷 を損失無く蓄え、そして損失無く放出することが出来る（図1）。 |onr| bsw| hey| eku| rlg| pam| pdp| ksy| jwi| dyb| wzw| yhb| tqj| lle| ohg| ggw| wxq| pla| thk| uox| imv| nnq| dqd| san| tpu| qdj| zez| gxf| hka| syo| otk| wja| agg| ofd| rgh| hbu| ujf| pio| iee| rcc| jce| kwp| hjy| ydh| sbx| pgp| bzd| cux| yfb| dre|